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内应力检测仪(SV系列)

具备透光材料内应力分布测量及缺陷筛查功能,能显现最大400*300mm全口径内应力图像和部分缺陷(如位错、微管等)分布;基于双折射应力测量模型实现应力定量测量。
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产品编号
SV20, SV50, SV400
数量
-
+
1
产品描述

 

优势

✔️ 基于双折射应力测量模型实现光学延迟和内应力分布二维测量

         ✔️ 包含多波长测量功能,光学延迟测量量程大

适用对象

大口径注塑光学件,石英玻璃件等

 

测量原理

  • 基于偏振光应力双折射效应检测材料内部应力分布。
  • 材料在成型过程中会由于工艺及环境条件形成不同的材料内部分布导致内应力;同时材料内部的缺陷也会导致应力集中。
  • 内应力会导致应力双折射效应,偏振光透过材料时会发生偏振态调制,通过测量透射光的斯托克斯矢量推算出材料的应力延迟量,从而得到材料内应力分布。

 

实测案例

  

可显示完整区域的应力图,可查看任意位置、任意角度截面线的应力分布图

 

可根据需求使用不同的颜色条来显示应力分布角度截面线的应力分布图

 

    

光程差图像及应力方向图              偏振通道光强图

 

 

测量结果

 

SV系列技术规格

 

产品型号 SV20 SV50 SV400
样品测量口径 1~10mm 2英寸/ 60*80mm 400*300mm
可订制化样品载台
测量模式 瞬时光弹/单波长/多波长 单波长/多波长
应力测量输出内容 相位延迟(°)、光学延迟(nm)综合应力(MPa)及方位角
测量光源 590nm LED光源,
620nm LED光源, 650nm LED光源,
可选配其它光源
620nmLED光源,
650nm LED光源,
可选配其它光源
590nm, 630nm, 650nmLED光源
可选配其它光源
尺寸量测横向分辨率 / / 350μm
应力测量范围 瞬时光弹模式:
0~150nm光学延迟
单波长模式:  
  0~310nm光学延迟
多波长模式:
 0~3000nm光学延迟
单波长模式:
0~310nm光学延迟
双波长模式:
0~3000nm光学延迟
0~6000nm光学延迟
方位角测量范围 0-180°
重复精度波动范围 0.1nm/1%光学延迟,1°方位角
测量准确性 2.5nm/5%光学延迟, ±1.5 °方位角
应力图像解析度 100万像素
单次测量时间 典型:
瞬时光弹<0.1s;
单波长<6s;
多波长<15s
典型:
单波长<6s
多波长<15s
典型<15s
样品载台 一体式样品载物台
设备尺寸 桌面式主机:
400*369*535mm
长*宽*高
桌面式主机:
450*369*956mm
长*宽*高
桌面式主机:
526*524*1198mm
长*宽*高

 

40001百老汇内应力检测仪将大口径注塑光学件,石英玻璃件等内应力数值、方位角等分析整合进入一键测量,并具备缺陷筛查功能,确保我们的客户能够快速确认工艺和生产管控。

关键词:
内应力
测量
应力
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光学
延迟
材料
方位角
分布
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